Eşit oranlarda Zn, Cd ve Cu kullanılarak oluşturulan ZnCuO ve CdCuO ikili oksit komposit ince filmlerin optiksel karakterizasyonu
Author:
Abstract
Bu çalışmada, elektrokimyasal depolama yöntemi kullanılarak üretilen ZnCuO ve CdCuO metal oksit komposit yarıiletkenlerinin optiksel özellikleri UV-Vis spektrometresi kullanılarak 300-850 nm dalga boyu aralığında araştırılmıştır. Üretilen metal oksitlerden ZnCuO kompozit ince filminin maksimum geçirgenliği (%) yaklaşık %20 iken CdCuO kompozit ince filminin ki yaklaşık %82 dır. ZnCuO ve CdCuO ortalama reflectance (%) değerleri sırasıyla %8.14 ve %3.8 dir. ZnCuO kompozit ince filminin sırasıyla maksimum soğurma katsayısı, enerji band aralığı, ortalama sönüm katsayısı, ortalama kırılma indesi, ortalama gerçek dielektrik sabiti, ortalama sanal dielektrik sabiti, ortalama dielektrik kaybı ve maksimum optiksel iletkenlik değerleri sırasıyla 8x106 (m-1), 2.33 eV, 0.29, 1.29, 1.59, 0.75, 0.47 ve 2.5 x 1015 iken CdCuO kompozit ince filminin bu değerleri sırasıyla; 1.1x106 (m-1), 2.71 eV, 0.04, 1.15, 1.32, 0.09, 0.07 ve 3.1 x 1014 tür.
Keywords
Abstract
In this work, optical properties of electrochemically deposited ZnCuO and CdCuO metal oxide composite semiconductors were investigated in the 300 – 850 nm wavelength range using UV-vis spectroscopy. The highest transmission (T%) value of the ZnCuO was 20%, while that of CdCuO was approximately 82%. Average reflectance values of ZnCuO and CdCuO were 8.14% and 3.8%, respectively. Maximum absorption coefficient, energy band gap, average extinction coefficient, average refractive index, average real dielectric constant, average imaginary dielectric constant, average dielectric loss and maximum optical conductivity values of ZnCuO composite thin film were 8 x 106 m-1, 2.33 eV, 0.29, 1.29, 1.59, 0.75, 0.47 and 2.6 x 1015, respectively, while these values of CdCuO composite thin film were respectively; 1.1 x 106 m-1, 2.71 eV, 0.04, 1.15, 1.32, 0.09, 0.07 and 3.04 x 1014.